粒納米粒度儀是用物理的辦法測(cè)試固體顆粒的大小和散布的一種儀器，儀器測(cè)試速度快、測(cè)試范圍寬及操作煩瑣。它可停止從納米到微米量級(jí)如此寬范圍的粒度散布，不只能丈量固體顆粒，還能丈量液體中的粒子。
與傳統(tǒng)辦法相比，粒度儀測(cè)試過程不受溫度變化、介質(zhì)黏度，試樣密度及外表狀態(tài)等諸多要素的影響，只需將待測(cè)樣品平均地展示于激光束中，粒度儀便能給出精確牢靠的丈量結(jié)果。
由于傳統(tǒng)的粒度丈量辦法操作繁瑣，耗時(shí)較長(zhǎng)，曾經(jīng)越來越不能順應(yīng)現(xiàn)代工業(yè)和科研快速反響的需求。現(xiàn)代的開展使激光和微電子技術(shù)應(yīng)用到粒度丈量范疇，完整克制了傳統(tǒng)辦法所帶來的弊端，在大大減輕勞動(dòng)強(qiáng)度的同時(shí)，加快了樣品的檢測(cè)速度，進(jìn)步了檢測(cè)結(jié)果的質(zhì)量。
粒納米粒度儀是目前應(yīng)用普遍的粒度測(cè)試辦法，其優(yōu)點(diǎn)包括：
1、丈量范圍廣，能夠丈量微米至納米級(jí)的顆粒，這也正是當(dāng)今粒度測(cè)試觸及的主要區(qū)間；
2、由于光的透射性，能夠完成非接觸測(cè)試，對(duì)被測(cè)樣品的干擾很小，從而減小了測(cè)試的系統(tǒng)誤差；
3、激光散射法中，光電轉(zhuǎn)換元件的響應(yīng)時(shí)間很短，能夠完成快速測(cè)試；
4、激光散射法與計(jì)算機(jī)配合運(yùn)用，易于完成測(cè)試過程的自動(dòng)化；
5、反復(fù)性好，均勻粒徑的典型精度可達(dá)1%以內(nèi)；
6、操作煩瑣。粒納米粒度儀集成了激光技術(shù)、現(xiàn)代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精細(xì)機(jī)械與計(jì)算機(jī)技術(shù)等，是目前顆粒測(cè)試范疇的主要儀器。
更多詳情：https://www.chem17.com/st487013/erlist_2318653.html
https://www.chem17.com/st487013/product_36055440.html
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由于傳統(tǒng)的粒度丈量辦法操作繁瑣，耗時(shí)較長(zhǎng)，曾經(jīng)越來越不能順應(yīng)現(xiàn)代工業(yè)和科研快速反響的需求。現(xiàn)代的開展使激光和微電子技術(shù)應(yīng)用到粒度丈量范疇，完整克制了傳統(tǒng)辦法所帶來的弊端，在大大減輕勞動(dòng)強(qiáng)度的同時(shí)，加快了樣品的檢測(cè)速度，進(jìn)步了檢測(cè)結(jié)果的質(zhì)量。
粒納米粒度儀是目前應(yīng)用普遍的粒度測(cè)試辦法，其優(yōu)點(diǎn)包括：
1、丈量范圍廣，能夠丈量微米至納米級(jí)的顆粒，這也正是當(dāng)今粒度測(cè)試觸及的主要區(qū)間；
2、由于光的透射性，能夠完成非接觸測(cè)試，對(duì)被測(cè)樣品的干擾很小，從而減小了測(cè)試的系統(tǒng)誤差；
3、激光散射法中，光電轉(zhuǎn)換元件的響應(yīng)時(shí)間很短，能夠完成快速測(cè)試；
4、激光散射法與計(jì)算機(jī)配合運(yùn)用，易于完成測(cè)試過程的自動(dòng)化；
5、反復(fù)性好，均勻粒徑的典型精度可達(dá)1%以內(nèi)；
6、操作煩瑣。粒納米粒度儀集成了激光技術(shù)、現(xiàn)代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精細(xì)機(jī)械與計(jì)算機(jī)技術(shù)等，是目前顆粒測(cè)試范疇的主要儀器。
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